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相控陣超聲檢測(cè)：Phased Array Ultrasonic Testing,簡(jiǎn)稱（PAUT）。其基本原理使用不同形狀的多陣元換能器產(chǎn)生和接收超聲波束，通過(guò)控制換能器陣列中各陣元發(fā)射(或接收)脈沖的不同延遲時(shí)間，改變聲波到達(dá)(或來(lái)自)物體內(nèi)某點(diǎn)時(shí)的相位關(guān)系，實(shí)現(xiàn)焦點(diǎn)和聲束方向的變化，從而實(shí)現(xiàn)超聲波的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。然后采用機(jī)械掃描和電子掃描相結(jié)合的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)圖像成像。它為確定不連續(xù)性的形狀、大小和方向提供出比單個(gè)或多個(gè)探頭系統(tǒng)更大的能力。由于PAUT可以準(zhǔn)確定位，以及無(wú)需頻繁更換探頭（斜探頭角度范圍廣），現(xiàn)在普遍使用在化工（壁厚腐蝕檢測(cè)）、制造（焊縫檢測(cè)、）、核電（閥門檢測(cè)）、以及風(fēng)電（復(fù)合材料檢測(cè)）、鐵路（鋼軌、螺栓檢測(cè)）等領(lǐng)域。
