X射線檢測偽影淺談

    工業(yè)CT技術(shù)性是一項數(shù)據(jù)可視化檢測技術(shù)，工業(yè)CT掃描顯像的效果不但能清楚，精 準(zhǔn)地重現(xiàn)被測物件的內(nèi)部構(gòu)造，并且能夠定量分析地得出化學(xué)物質(zhì)相對密度構(gòu)成和里面關(guān)鍵點的幾何圖形規(guī)格，在工業(yè)和臨床中取得了廣泛運用。

    可是，因為技術(shù)性基本原理和設(shè)施的硬件軟件標(biāo)準(zhǔn)等限定，無損檢測要求復(fù)建圖象中難以避免地造成偽影，圖象勻稱性下降，品質(zhì)得到很大危害。偽影的類型許多，如環(huán)狀偽影，邊沿偽影，金屬材料偽影，透射偽影等全是常用的偽影；在其中，無損滲透檢測在低要射線工業(yè)中，射線連續(xù)譜造成 的射束硬底化使復(fù)建圖象中形成的偽影，許多沒有顯著的不連續(xù)性，沒有清楚的界限，使其鑒別比較艱難，易導(dǎo)致檢驗技術(shù)人員的錯判。工業(yè)CT掃描結(jié)果中射束硬底化誘因X射線工業(yè)CT能量是連續(xù)譜,高能量X射線透過功能強，低能量X射線透過能力較差，低能量光子比較高能量光子更加容易被原材料消化吸收。透過產(chǎn)品工件時，散射后X光子低中能量光子市場份額減少，高能量光子市場份額擴大，射束均值能量擴大，能譜儀最 高值偏移(能譜儀發(fā)硬)，這類情況稱之為射束硬底化。假如以射線能量數(shù)值橫坐標(biāo)軸，相對性抗壓強度為縱軸，散射后的射線譜相對性于人射譜最 高值偏移。射束硬底化會造成精 確測量數(shù)據(jù)信息不一致，掃描儀圓柱型勻稱產(chǎn)品工件時，CT值隨半經(jīng)降低而減少，在CT圖象中主要表現(xiàn)為邊沿地區(qū)的灰度級比正中間地區(qū)的高造成相近“水杯”樣子的偽影，滲透無損檢測也稱杯狀偽影。杯狀偽影的不連續(xù)性不顯著，沒有清楚的界限，鑒別艱難。杯狀偽影與環(huán)狀偽影和邊沿偽影不一樣，后二者均有比較明確的界限。